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6 个产品
  • TG 300IF

    干涉式硅片形貌及应力测试
    Interferometric measurement of silicon wafer topography and stress
    TG 300IF

    1326 ¥ 0.00
  • EPROFILE 300FD

    高性能膜厚及OCD测量机
    EPROFILE 300FD是自主创新开发,具有自主知识产权的集成电路生产线200/300mm硅片全自动光学薄膜测量及光学关键尺寸(OCD)测量系统。

    7908 ¥ 0.00
  • ULTRAView

    电子束晶圆生产制程控制设备




    8977 ¥ 0.00
  • EFILM 200FU

    国内领先 Micro OLED 全 N2 环境使用倒置型膜厚测量机
    EFILM 200FU是公司自主创新开发,具有自主知识产权的硅基显示 Micro OLED 蒸镀生产线 In-Line 设备

    3204 ¥ 0.00
  • AeroScanTM Duo

    FIB-SEM 双束系统
    FIB-SEM Dual Beam System
    AeroScanTM Duo

    743 ¥ 0.00